Il SEM JEOL IT510LV è un microscopio Elettronico a Scansione con una sorgente convenzionale (W); lo strumento è caratterizzato da una risoluzione nominale ≤3 nm @ 30 kV; ≤15 nm @ 1 kV.
La modalità a basso vuoto (low vacuum, LV – 650 Pa) e la grande capacità della camera, si possono osservare campioni con un diametro fino a 200 mm e un peso fino a 5 kg, permette lo studio di campioni voluminosi e/o campioni che non possono essere metallizzati (come per esempio la maggior parte dei reperti archeologici o minerali di alto valore da collezione)
Lo strumento è dotato di detector in camera per elettroni secondari (SED) e retrodiffusi (BED) che possono lavorare simultaneamente; inoltre, è presente un innovativo BEX detector (Oxford) in grado di acquisire e processare allo stesso tempo BED e raggi-X per mappe di fase in real-time anche nel caso di aree piuttosto estese, nell’ordine di cm2 – “cartografia”.
Il SEM è anche equipaggiato di un sistema di microanalisi Ultimax 40 (Oxford) e uno di catodoluminescenza RGB JOLT (Delmic) per una più raffinata analisi di campioni geologici, semiconduttori e altri materiali.