Microscopio ELettronico FIB SEM

Microscopio ELettronico FIB SEM
Microscopio ELettronico FIB SEM

Il FEI Quanta 200 3D abbina una colonna elettronica SEM con una colonna ionica FIB (Focused Ion Beam).

Il FIB utilizza una sorgente di Gallio ed è impiegato per il taglio dei campioni e per le applicazioni di nano-litografia.

Il SEM/FIB è inoltre dotato di un sistema di iniezione di gas attraverso il quale si può depositare uno strato di Platino di spessore e forma desiderata sulle parti del campione che si vogliono preservare dall’erosione durante le osservazioni e le lavorazioni con il fascio ionico.