Il Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) JEOL JEM 2100 Plus ha una ha una sorgente in LaB6 e può lavorare a tensioni di accelerazioni comprese tra 80 e 200 kV. I pezzi polari per alta risoluzione di cui è dotato lo strumento permettono una risoluzione spaziale di 0,24 nm, che unitamente all’ampio range di tilt (+/- 45° con un porta-campioni doppio tilt di tipo standard), lo rendono estremamente versatile ed adatto a diversi tipi di indagine.
Lo strumento può lavorare anche in modalità STEM (scanning) ed è dotato di un detector per osservazioni in campo chiaro (BF) e di un detector anulare per osservazioni in campo scuro ad alto angolo di diffrazione (HAADF). L’acquisizione delle immagini TEM avviene attraverso una camera Gatan con tecnologia CMOS con sensore da 9 Mpixel, molto sensibile, che unitamente alla possibilità di inserire una speciale apertura “in-gap” sotto il campione che riduce il danno da irraggiamento, rendono lo strumento particolarmente adatto a lavorare con campioni sensibili.
Il JEM 2100P è dotato di un sistema Oxford di nanoanalisi EDS (Energy Dispersive System) con sensore da 80 mm2, particolarmente sensibile ed efficiente, anche nella mappatura composizionale, per la quale è previsto un sistema di correzione del drift. Una speciale apertura da inserire a monte del campione, permette infine di ridurre i picchi spuri nello spettro, migliorando il rapporto picco/fondo.
La varietà dei modi di osservazione possibili unitamente alle grandi prestazioni strumentali, rendono il JEM 2100P uno strumento molto versatile ed adatto alla caratterizzazione di campioni molto diversi, come materiali sintetici, campioni biologici, geologici e nanoparticelle.